2017年无损检测检验员考试题(1),本试卷是为考无损检测检验员考试的考生准备的试题及答案练习。
DL/T821-2002规定,外径小于或等于76mm的管子,其对接接头透照应采用规定的Ⅰ型或Ⅱ型专用象质计。( )
当对接接头两侧的母材厚度不同时,应取较厚侧的厚度为评片的依据。( )
按DL/T821-2002标准规定,在评定框尺内,同时存在几种类型缺陷时应综合评级,即各自评级,将级别之和减1作为最终评级。( )
使用被划伤的铅箔增感屏照相,底片上会出现与划伤相应的清晰的黑线。( )
射线底片上产生黑的月牙形痕迹的原因可能是曝光后使胶片弯曲。( )
背散射线的存在会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个铅字B来验证背散射线是否存在。( )
为保持显影性能的稳定,可采用定期添加补充液的方法进行,但添加补充液的总量不允许超过原显影液体积的3倍。( )
对曝光不足的底片,可采用增加显影时间或提高显影温度的方法来增加底片黑度,从而获得符合要求的底片。( )
半衰期是指放射性物质原子数转变为原来的一半所需的时间。( )
小径管双壁透照的要点是选用较高管电压、较低曝光量,其目的是减小底片反差,扩大检出区域。( )
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