我
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- A.单个缺陷当量直径
- B.缺陷引起的底波降低量
- C.密集区缺陷占检测总面积百分比
- D.以上都作为独立的等级分别使用
- A.定量线
- B.最大声程处的评定线
- C.判废线
- D.Φ2线
- A.8毫米
- B.6毫米
- C.3毫米
- D.5毫米
- A.I级
- B.II级
- C.不合格
- D.其级别评定要视位置而定
- A.平行
- B.成45°角
- C.垂直
- D.成60°角
- A.材料晶粒粗大
- B.声速不均匀
- C.声阻抗变化大
- D.以上全部
- A.工件中有小而密集缺陷
- B.工件中有局部晶粒粗大区域
- C.工件中有疏松缺陷
- D.以上都有可能
- A.工作频率
- B.探头和仪器参数
- C.耦合条件与状态
- D.探测面
- E.材质衰减
- F.以上都是
- A.大于60°
- B.等于60°
- C.小于60°
- D.以上都可能
- A.大于第二临界角
- B.小于第一临界角
- C.在第一和第二临界角之间
- D.在第二和第三临界角之间
- A.在任何情况下都位于探头中心正下方
- B.位于探头中心左下方
- C.位于探头中心右下方
- D.未必位于探头中心正下方
- A.2dB
- B.4dB
- C.用实验方法测定的补偿dB值
- D.对第一种材料任意规定的补偿dB值
- A.底波降低或消失
- B.有较高的"噪声"显示
- C.使声波穿透力降低
- D.以上全部
- A.Φ3-20mm
- B.Φ2-25mm
- C.Φ1.2-25mm
- D.Φ1.2-20mm
- A.评定缺陷大小
- B.判断缺陷性质
- C.确定缺陷位置
- D.测量缺陷长度
- A.声束扩散
- B.材质衰减
- C.仪器阻塞效应
- D.折射
- A.脉冲宽度
- B.频率
- C.探头直径
- D.超声波通过的材质和波型
- A.1.67倍近场
- B.三倍近场
- C.从晶片位置开始
- A.高频率、横波
- B.较低频率、横波
- C.高频率、纵波
- D.较低频率、纵波
- A.缺陷尺寸
- B.缺陷方位
- C.缺陷类型
- D.以上都是
- A.λ=c/f
- B.λ=f/c
- C.c=f/λ
- A.减少
- B.保持不变
- C.增大
- D.随波长均匀变化
- A.sinα=(3230/2730)·sin45°
- B.α=sin-1(3230/2730)·sin 45°
- C.tgα=(3230/2730)·Sin45°
- A.横波比纵波的波长短
- B.在材料中横波不易扩散
- C.横波质点振动的方向比缺陷更为灵敏
- D.横波比纵波的波长长
- A.电磁波
- B.光波
- C.机械波
- D.微波
- A.裂纹,气孔,夹渣,白点和疏松
- B.未熔合,气孔,未焊透,夹渣和裂纹
- C.气孔,夹渣,未焊透,折叠和缩孔
- D.裂纹,未焊透,未熔合,分层和咬边
- A.3年
- B.5年
- C.10年
- D.15年
- A.空气
- B.水
- C.铝
- D.不锈钢
- A.电磁效应
- B.磁致伸缩效应
- C.压电效应
- D.磁敏效应
- A.高级人员
- B.中级人员
- C.初级人员
- D.a和b
- E.以上都可以
