- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- A.RT
- B.UT
- C.MT
- D.AE
- E.PT
- F.LT
- G.都可以
- 正确
- 错误
- A.渗透检测方法比涡流检测方法灵活性小
- B.对于铁磁性材料的表面缺陷,渗透检测方法不如磁粉检测方法可靠
- C.渗透检测方法不能发现疲劳裂纹
- D.对于微小的表面缺陷,渗透检测方法比射线照相检测方法可靠
- A.溶剂去除型荧光渗透法
- B.溶剂去除型着色渗透法
- C.后乳化型荧光渗透法
- D.水洗型着色渗透法
- A.酸洗
- B.打磨
- C.喷砂
- D.蒸汽去除
- A.250A
- B.500A
- C.1000A
- D.以上都不对
- A.细长形
- B.球形
- C.扁形
- D.a与d混合物
- E.b或d
- A.奥氏体钢
- B.马氏体不锈钢
- C.铁素体不锈钢
- D.以上都不适用
- A.更适合于野外现场探伤
- B.成本低
- C.可提高对细小缺陷的识别能力
- D.最适用于干法
- A.400安
- B.600安
- C.800安
- D.1000安
- A.断点相位控制器
- B.整流器
- C.快速断电装置
- A.材料被磁化的难易程度
- B.磁场穿透材料的能力
- C.检测最小缺陷的能力
- D.以上都是
- A.只允许向装有载液的容器中施加磁粉
- B.只允许向装有磁粉的容器中施加载液
- C.先用少量载液把磁粉调成糊状,然后再缓慢稀释
- D.以上三种方法都不对
- A.试片厚度为7/50mm
- B.试片上的槽深为7/50mm
- C.试片厚度50μm,槽深7μm
- D.槽深7μm,槽宽50μm
- A.交流电
- B.直流电
- C.半波整流
- D.三相全波整流
- E.以上都是
- A.受腐蚀的表面
- B.阳极化的表面
- C.涂漆的表面
- D.a和c
- A.方法与检测表面裂纹相类似
- B.如果缺陷是由细小的气孔组成的,就不难检出
- C.如果缺陷的宽度可以估计出来,检测就很简单
- D.磁粉探伤方法很难检查出来
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-
复合磁化方法是( )
- A.剩磁法探伤中检查任意取向上表面缺陷最好的方法
- B.给工件通以直流电并同时施加交流磁场的磁化方法
- C.利用改变两个直流磁场之间的夹角获得摆动磁场或旋转磁场的一种方法
- D.以上都不对
- A.现场记录制度
- B.统一的探伤方法制度
- C.统一的报告制度
- D.互检和复检制度
- A.试片厚度为15/100mm
- B.试片上的槽深为15/100mm
- C.试片厚度100μm,槽深15μm
- D.槽深100μm,槽宽15μm
- A.28°42'
- B.49°24'
- C.55°18'
- D.以上都不对
- A.9.5dB
- B.12dB
- C.24dB
- D.以上都不对D
- A.采用当量试块比较法测定的结果
- B.对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果
- C.根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果
- D.缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同
- A.波型转换
- B.折射
- C.反射
- D.以上都是
- A.连续波穿透法
- B.脉冲波反射法
- C.连续波共振法
- D.剪切波谐振法
- A.RT
- B.UT
- C.MT
- D.ET
- E.PT
- F.VT
- A.检测效率高
- B.几乎适用于所有材料
- C.缺陷显示直观
- D.容易判断缺陷的性质
- A.对小缺陷的检出能力
- B.对缺陷的定位精度
- C.相邻缺陷的分辨能力
- D.以上都是
- A.底面回波降低或消失
- B.信噪比降低
- C.穿透能力下降
- D.以上都是
- A.不考虑探伤面的声能损失补偿
- B.不考虑材质衰减的补偿
- C.不使用校正试块
- D.以上都是
- A.高
- B.低
- C.相同
- D.以上都不对