- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
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- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
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- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- 正确
- 错误
- A.6dB
- B.9dB
- C.3dB
- D.12dB
- A.4倍
- B.6dB
- C.12dB
- D.9dB
- A.65mm
- B.68mm
- C.71mm
- D.75mm
- A.靠后
- B.靠前
- C.相当
- D.成任意状态
- A.可变角探头
- B.直探头
- C.斜探头
- D.收/发联合双晶探头
- A.1倍
- B.9dB
- C.12dB
- D.24dB
- A.C1<C2
- B.C1>C2
- C.Z1>Z2
- D.Z1<Z2
- A.f大于近场长
- B.f小于近场长
- C.f等于近场长
- D.f任选
- A.50%
- B.90%
- C.0
- D.1%
- A.声阻抗相差大
- B.声阻抗相差小
- C.衰减小
- D.声速相差小
- A.垂直于声波的裂纹
- B.任意取向的夹杂物
- C.平行于表面的裂纹
- D.一系列的小缺陷
- A.线状夹渣
- B.与探测面垂直的大而平的缺陷
- C.密集气孔
- D.未焊透的焊缝
- 39
-
凹面缺陷将( )
- A.引起声能扩散
- B.引起反射波束聚焦,焦点决定于缺陷的曲率
- C.引起超声波波长改变
- D.不引起声能扩散
- A.在整个探测表面上保持水距一致
- B.保证最大水距
- C.保证声束的入射角恒定为15°
- D.保证声束对探测面的角度恒定为5°
- A.10mm
- B.4mm
- C.1个波长
- D.4倍波长
- A.导致荧光屏图象中失去底面回波
- B.难以对平行于入射面的缺陷进行定位
- C.通常表示在金属中存在疏松状态
- D.减小试验的穿透力
- A.50mm
- B.100mm
- C.150mm
- D.200mm
- A.探头效率
- B.声耦合问题
- C.检验装置的脉冲重复频率
- D.阴极射线管荧光屏的余辉时间
- A.内外表面
- B.只在内表面
- C.只在外表面
- D.从内表面到壁厚的1/2深度
- A.波形变换
- B.压电效应
- C.折射
- D.阻抗匹配
- A.杂乱
- B.平行于晶粒流向
- C.垂直于晶粒流向
- D.与晶粒流向成45°角
- A.波长的一半
- B.1个波长
- C.1/4波长
- D.若干波长
- A.声束扩散
- B.材质衰减
- C.仪器阻塞效应
- D.折射
- A.可能是疏松
- B.可能是大晶粒
- C.可能是大而平的缺陷与入射声束取向不良
- D.上述三种都可能