钢轨探伤工中级练习题1

70°探头探测钢轨断面发射方向与探头移位方向相反时（后70°）。（ ）

70°探头探测钢轨断面发射方向与探头移位方向相同时（前70°）（ ）。

70°探头探测60Kg/m钢轨时探头入射点距轨端（ ）左右出现轨颏部底角反射波。

70°探头探测60Kg/m钢轨时，时基线声程为250mm，轨端颏部底角反射波应出现在刻度（ ）左右。

70°探头入射点距60Kg/m轨端头（ ）左右荧光屏刻度9.2左右（声程250mm）将显示轨端顶角反射波。

70°探头入射点距60Kg/m轨端头216mm左右荧光屏刻度9.2左右（声程250mm）将显示（ ）。

70°探头入射点距60Kg/m轨端头216mm左右荧光屏刻度（ ）左右（声程250mm）将显示轨端顶角反射波。

一次波是探头发射的超声波在未被（ ）反射之前，由伤损或轨端断面反射的回波。

二次波是超声波经轨头下颏反射之后尚未被（ ）反射之前，由伤损或轨端断面反射的回波。

70°探头采用横波在钢轨轨头内进行（ ）式探伤。

WGT—3试块可用于测定（ ）。

阶梯试块主要用于测定（ ）的距离幅度特性和阻塞范围。

CSK-1A试块有机玻璃可测定（ ）。

SH-1型半圆试块（ ）。

CSK-1A试块91底面的（ ）纵波回波时间相当于R100弧面的一次横波回波的时间。

CSK-1A试块R100圆弧面可测定（ ）。

CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（ ）的探头。

CSK-1A试块利用厚度25mm和高度100mm测定探伤仪的（ ）。

CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（ ）。

CSK-1A试块R50、R100阶梯圆弧面同时获得2个反射回波用于校正（ ）。

电路中原来不该相连接的地方出现了连接导通，这种情况通常称为（ ）。

硅二极管正向导通电压为（ ）。

晶体三极管的基极、集电极和发射极分别用（ ）表示。

焊缝探伤中发现位于（ ）的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。

一般探头发射的声场只有一个主声束，远场区轴线上声压（ ）。

用K2探头探测T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1：1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度3格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为（ ）。

用K2探头探测T=15mm的对接焊缝，仪器按水平l：1调节扫描速度，探伤中示波屏上水平刻度5格发现一缺陷波，此缺陷的深度（ ）。

用K2探头探测T=40mm的对接焊缝，仪器按深度1:1调节扫描速度，探伤中在示波屏水平刻度6格处发现一缺陷波，这个缺陷的水平距离为（ ）。

在同一介质中，超声波的声强与声压的平方（ ）。

用以确切地表示探伤仪中某电路系统的结构、原理，并由线条、箭头、数字、波形表示的图形称为（ ）。

超声波探伤激励晶片振动的电脉冲产生于（ ）。

无论放大电路输出端采用电压反馈还是电流反馈，只要输入端采用并联负反馈的方式，其输入电阻都要（ ）。

声速主要取决于（ ）。

无论放大电路输入端采用串联反馈还是并联反馈，只要输出端采用电压负反馈的方式，其输出电阻都要（ ）。

放大电路不外加输入信号，也可以有输出电压，这种状态称为（ ）。

当计算放大电路的静态工作点时，必须按（ ）来考虑。

为了保证三极管工作在放大区、在组成放大电路时，外加电源的极性应使三极管的集电结处于（ ）。

TB/T 2340—2000标准规定，37°和70°探头探测WGT-3试块上φ3×65横通孔， 当波高达到80%时的灵敏度余量不小于（ ）。

为了保证三极管工作在放大区、在组成放大电路时，外加电源的极性应使三极管的发射结处于（ ）。

TB/T 2340—2000标准规定，0°探头探测WGT-3试块110mm底面，当波高达到80%时，灵敏度余量不小于（ ）。

TB/T 2340—2000标准规定,0°探头探测深度20mm到距离幅度特性曲线最高点范围内，△w≤（ ）。

一般认为，超声波探伤用活塞波探头，其声场的不扩散区域长度等于（ ）。

超声波垂直于界面入射时，其声压反射率为（ ）。

探头的近场长度由下式决定（式中λ波长，f频率，D晶片直径）（ ）。

如果探测面毛糙，应该采用（ ）。

直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为 0.004 dB/mm，前者底面回波为满幅度 80%时，则后者底面回波应为其（ ）。

用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（ ）。

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（ ）。

当频率和材料一定时，通常横波对小缺陷的检测灵敏度高于纵波，这是因为（ ）。

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（ ）。