单选

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:( )

  • A.近场干扰
  • B.材质衰减
  • C.盲区
  • D.折射
参考答案
¥

订单号:

遇到问题请联系在线客服

订单号:

遇到问题请联系在线客服