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- A.样本量大于等于50
- B.落入每组的频率数不能太小
- C.需要卡方分布分位数表
- D.样本量大小对精度无影响
- A.一次性成败型样本
- B.定数截尾试验样本
- C.定时截尾试验样本
- D.随机截尾样本
- A.增长模型是一个数学表达式，描述了产品在可靠性增长过程中的规律或总趋势。
- B.目前在可修产品的RGT中，普遍使用的是杜安模型
- C.有时为使杜安模型的适合性和最终评估结果具有较坚实的统计学依据，可用AMSAA模型作为补充
- D.常用的模型是并联模型和混联模型
- A.杜安模型是确定性模型，即工程模型，而不是数理统计模型
- B.杜安模型的前提是逐步纠正故障，不允许有多个故障集中改进而使产品可靠性有突然地较大幅度提高。
- C.杜安模型不能得到相应的可靠性点估计值
- D.杜安模型通常采用图解的方法分析可靠性增长规律
- A.正态分布具有对称性，它的主要参数是均值μ和方差，记为N(μ,σ2)
- B.可用于分析磨损(如机械装置)而发生故障的情况
- C.也可用于分析鞭炮等成败型产品的失效情况
- D.方差σ2决定正态分布曲线的形状，表征分布的离散程度
- A.产品故障的修复时间
- B.产品寿命
- C.产品发生故障的时间
- D.一批产品的不合格数
- A.环境应力筛选是可靠性统计试验的预处理工艺
- B.任何提交用于可靠性统计试验的样本必须经过环境应力筛选
- C.先进行可靠性统计试验，后进行环境应力筛选
- D.不进行环境应力筛选，直接进行可靠性统计试验
- A.应在元器件层次上100%进行
- B.应在部件层次上100%进行
- C.应在组件层次上100%进行
- D.应在系统层次上100%进行
- A.f(t)+F(t)=1
- B.R(t)+F(t)=1
- C.R(t)=tfudu
- D.F(t)=0f(u)du
- A.试验剖面中的应力都要采用实测数据
- B.试验剖面主要包括环境条件、工作条件和使用维护条件
- C.应模拟产品实际的使用条件制定试验剖面
- D.一般按GJB899《可靠性鉴定和验收试验》确定试验剖面
